Zeiss Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Supra 40VP


Art.-ID: 23274

Zustand: Gebraucht

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var src = "https://www.paypal.com/sdk/js?currency=EUR&client-id=ATiL-2VyuoyrVayNqMgVsBsVRmEUGU2Vy6XUqyeJPZh99Y0KPYRGHc9hpl3j2O_a2h3iB6SRkTud0fhV&components=messages"; if(!document.querySelector('script[src="' + src + '"]')) { var script = document.createElement("script"); script.type = "text/javascript"; script.id = "paypal-installment-banner"; script.src = src; script.rel = "preload"; document.body.appendChild(script); }

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Zeiss Rasterelektronenmikroskop


Hier bieten wir Ihnen ein gebrauchtes Zeiss Rasterelektronenmikroskop an.
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Zeiss Supra 40VP
Das Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Supra 40VP erlaubt durch die GEMINI-Optik die Analytik
und Abbildung von Proben im Hochvakuum und im druckvariablen Bereich mit einer Ortsauflösung von bis zu 1,3 nm.
Durch den variablen Druckbereich wird auch die Untersuchung nicht leitender Proben ermöglicht.
Das Gerät ist mit folgenden Detektoren ausgestattet:
Sekundärelektronen-Detektor (SE) für den Hochvakuumbetrieb
VPSE-Detektor für den druckvariablen Bereich
Inlens-Sekundärelektronendetektor
Rückstreuelektronen-Detektor (BSD)
Ausstattung:
Carl Zeiss Supra 40VP
Gemini Optik
Panasonic CCTV Camera WV-BP332EE
EDWARDS Ölfreier trockenlaufender Scroll-Pumpe
EDX-Detektor
STEM-Detektor
Maximale Auflösung: 1 nm
Vergrößerungsbereich: 12x - 900.000x
Beschleunigungsspannung: max. 30 kV
Software: SmartSEM
Typ: Zeiss Supra 40VP
Lieferumfang: (Siehe Fotos)
Zustand: gebraucht / used
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

document.querySelector("form > input[data-mail='subject']").value = "Webshop - Frage zu Artikel - Artikel-ID: " + vueApp.$store.state.items[23274].variation.documents[0].data.item.id;

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