Jeol Rasterelektronenmikroskop REM SEM JSM-6400
Art.-ID: 20294
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Jeol
Hier bieten wir Ihnen ein Rasterelektronenmikroskop an.
Das Jeol JSM-6400 ist ein REM, das mit einem energiedispersiven Röntgenanalysator (EDS-System) von Oxford konfiguriert ist.
REM ist eine Methode zur hochauflösenden Abbildung von Oberflächen.
Ein einfallender Elektronenstrahl wird über die Oberfläche der Probe abgetastet und die resultierenden von der Probe emittierten Elektronen
werden von einem Detektor angezogen und gesammelt und in ein Signal umgewandelt.
Die Abbildung in einem REM kann unter Verwendung von Sekundärelektronen erfolgen, um feine topografische Oberflächenmerkmale zu erhalten
oder mit rückgestreuten Elektronen, die einen Kontrast auf der Basis der Ordnungszahl ergeben.
Das EDS-Analysesystem ermöglicht es dem REM, eine Analyse der Zusammensetzung von Proben durchzuführen.
Spezifikationen
Auflösung:
3,5 nm garantiert (35 kV, WD = 8 mm)
Vergrößerung:
x10 (WD = 39 mm) bis 300.000
Bildmodi:
Sekundärelektronenbild (SEI)
Rückgestreutes Elektronenbild (BEI (Zusammensetzung, Topographie))
Elektronenkanalisationsmuster (ECP)
Beschleunigungsspannung:
0,2 bis 5 kV (100-V-Schritte)
5 bis 40 kV (1 kV Schritte)
Sondenstrom:
10-12 bis 10-5 A
Autofokus:
Eingebaut
Auto Stigmator:
Eingebaut
Automatische Kontrast- und Helligkeitsregelung:
Eingebaut
Bedingungsspeicherfunktionen:
Für jeden Bediener oder jede Probe können 10 Sätze der folgenden Parameter ein- und ausgelesen werden
Beschleunigungsspannung/Bias/Sondenstrom / Stigmator / Vergrößerung / Fokus / Bildkontrast und Helligkeit von SEI
Bildverarbeitungssystem
Bildspeicher: 1.024 x 1.024 x 8 Bit x 4 Frames (19 Frames mit optionaler Festplatte)
Pufferspeicher: 512 x 512 x 16 Bit x 2 Frames
Funktionen: Mittelwertbildung, Integration, Pixelakkumulation, 2-Divisions-Anzeige, 4-Divisions-Anzeige,
Histogramm, Bildkonvertierung, Frame-to-Frame-Berechnung
Volle Tastatur
Verschiedene Funktionen können durch Menüauswahl oder Befehlseingabe über die Tastatur ausgeführt werden
Externe Steuerung (Option)
Über die Volltastatur ausführbare Steuerelemente können auch extern über RS-232C ausgeführt werden
Objekttisch
Voll euzentrischer Goniometer-Tisch
Probenbewegungen: X = 50 mm, Y = 70 mm, Z = 40 mm (fein Z = + 2 / -3 mm), T = -5 ° bis + 90 °, R = 360 ° endlos
Installationsvoraussetzungen
Leistung: Einphasig, 50/60 Hz, 240/220/200/180 V AC, 6 kVA
Wasser: 5 l / min. oder mehr
Trockenes Stickstoffgas: Sollte vom Kunden bereitgestellt werden.
Temperatur: 20 +- 5 ° C
Luftfeuchtigkeit: 60% oder weniger
Gewicht ca. 880 kg
Raumgröße: Ca. 2.700 mm x 3.200 mm oder mehr
Betriebssystem
DIPS: Windows 7, EDX: Windows 2000
Typ: JSM-6400
Lieferumfang: (Jeol JSM-6400 mit Zubehör wie abgebildet)
Zustand: gebraucht / used
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.
Art.-ID | 20294 |
Zustand | Gebraucht |
Modell | Jeol JSM-6400 REM SEM |
Hersteller | Jeol |
Inhalt | 1 Stück |
Gewicht | 800000 g |
Rasterelektronenmikroskope
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