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Sentech

Hier bieten wir Ihnen ein Mehrwinkel-Laserellipsometer an.

Sub-Angström-Genauigkeit

Der stabilisierte HeNe-Laser garantiert eine Genauigkeit
von 0,1 Å für die Messung der Dünnschichtdicke von ultradünnen Einzelschichten.

Reizen Sie die Grenzen der Laserellipsometrie aus

Das manuelle Mehrfachwinkel-Goniometer mit überlegener Leistung und Winkelgenauigkeit
dieses Laserellipsometers ermöglicht die Messung des Brechungsindex,
des Extinktionskoeffizienten und der Filmdicke einzelner Filme und Schichtstapel.

Hochgeschwindigkeit

Die Messgeschwindigkeit unseres Laserellipsometers SE 400adv ermöglicht es dem Anwender,
das Wachstum eines einzelnen Films und die Endpunkterkennung zu überwachen oder Proben auf Homogenität abzubilden.

Mit dem Laserellipsometer SE 400adv können einzelne Filme und Substrate aus wählbaren,
anwendungsspezifischen Einfallswinkeln charakterisiert werden. Das automatisch kollimierende Teleskop gewährleistet
eine präzise Messung auf den meisten absorbierenden oder transparenten Substraten mit einer flachen,
reflektierenden Oberfläche. Die voll integrierte Unterstützung mehrerer Winkelmessungen (40 ° - 90 ° in Schritten von 5 °)
kann zur Bestimmung der Dicke, des Brechungsindex und des Extinktionskoeffizienten von Schichtstapeln verwendet werden.
Mehrere Winkelmessungen werden auch für die absolute Dickenmessung angewendet,
um die Mehrdeutigkeit der Dickenmessung bei der Laserellipsometrie zu kompensieren.

Das SE 400adv ist das SENTECH Laserellipsometer zur Dickenmessung von ultradünnen Einzelfilmen. Das kompakte Tischgerät
besteht aus Ellipsometeroptik, Goniometer, Probenplattform, Autokollimationsteleskop, HeNe-Laserquelle und Detektionseinheit.
Die Optionen unseres Laserellipsometers SE 400adv unterstützen Anwendungen in den Bereichen Mikroelektronik, Photovoltaik,
Datenspeicherung, Displaytechnologie, Biowissenschaften, Metallverarbeitung und anderen.

Typ: SE400adv

Zustand: gebraucht / used

Lieferumfang: (Ellipsometer wie abgebildet)

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Sentech Mehrwinkel-Laserellipsometer SE 400adv

Sentech

Hier bieten wir Ihnen ein Mehrwinkel-Laserellipsometer an.

Sub-Angström-Genauigkeit

Der stabilisierte HeNe-Laser garantiert eine Genauigkeit
von 0,1 Å für die Messung der Dünnschichtdicke von ultradünnen Einzelschichten.

Reizen Sie die Grenzen der Laserellipsometrie aus

Das manuelle Mehrfachwinkel-Goniometer mit überlegener Leistung und Winkelgenauigkeit
dieses Laserellipsometers ermöglicht die Messung des Brechungsindex,
des Extinktionskoeffizienten und der Filmdicke einzelner Filme und Schichtstapel.

Hochgeschwindigkeit

Die Messgeschwindigkeit unseres Laserellipsometers SE 400adv ermöglicht es dem Anwender,
das Wachstum eines einzelnen Films und die Endpunkterkennung zu überwachen oder Proben auf Homogenität abzubilden.

Typ: SE400adv

Zustand: gebraucht / used

Lieferumfang: (Ellipsometer wie abgebildet)

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Laborartikel

Sentech Mehrwinkel-Laserellipsometer SE 400adv

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Der stabilisierte HeNe-Laser garantiert eine Genauigkeitvon 0,1 Å für die Messung der Dünnschichtdicke von ultradünnen Einzelschichten.

Reizen Sie die Grenzen der Laserellipsometrie aus

Das manuelle Mehrfachwinkel-Goniometer mit überlegener Leistung und Winkelgenauigkeitdieses Laserellipsometers ermöglicht die Messung des Brechungsindex,des Extinktionskoeffizienten und der Filmdicke einzelner Filme und Schichtstapel.

Hochgeschwindigkeit

Die Messgeschwindigkeit unseres Laserellipsometers SE 400adv ermöglicht es dem Anwender,das Wachstum eines einzelnen Films und die Endpunkterkennung zu überwachen oder Proben auf Homogenität abzubilden.

Typ: SE400adv

Zustand: gebraucht / used

Lieferumfang: (Ellipsometer wie abgebildet)

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Laborartikel

Der stabilisierte HeNe-Laser garantiert eine Genauigkeit
von 0,1 Å für die Messung der Dünnschichtdicke von ultradünnen Einzelschichten.

Das manuelle Mehrfachwinkel-Goniometer mit überlegener Leistung und Winkelgenauigkeit
dieses Laserellipsometers ermöglicht die Messung des Brechungsindex,
des Extinktionskoeffizienten und der Filmdicke einzelner Filme und Schichtstapel.

Die Messgeschwindigkeit unseres Laserellipsometers SE 400adv ermöglicht es dem Anwender,
das Wachstum eines einzelnen Films und die Endpunkterkennung zu überwachen oder Proben auf Homogenität abzubilden.

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.